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Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀

產(chǎn)品時間:2024-03-28
Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發(fā)射出初級X射線到樣品上,通過半導(dǎo)體探測器檢測樣品激發(fā)出的熒光X射線,從而對樣品元素進(jìn)行無損定性和定量分析。半導(dǎo)體探測器采用帶電動冷卻系統(tǒng)的硅漂移探測器(SDD),無需液氮冷卻,結(jié)合數(shù)字信號處理器(DSP),使得測試結(jié)果具有高分辨力。為了提高分析性能,良好的光學(xué)激發(fā)系統(tǒng)使得半導(dǎo)體探測器達(dá)到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。

Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發(fā)射出初級X射線到樣品上,通過半導(dǎo)體探測器檢測樣品激發(fā)出的熒光X射線,從而對樣品元素進(jìn)行無損定性和定量分析。半導(dǎo)體探測器采用帶電動冷卻系統(tǒng)的硅漂移探測器(SDD),無需液氮冷卻,結(jié)合數(shù)字信號處理器(DSP),使得測試結(jié)果具有高分辨力。為了提高分析性能,良好的光學(xué)激發(fā)系統(tǒng)使得半導(dǎo)體探測器達(dá)到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀特點:

快速無損地進(jìn)行成分分析

對大而/或不規(guī)則的試樣進(jìn)行 

近距離分析曲面試樣 

小巧輕便,適用于現(xiàn)場分析

非接觸分析

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀應(yīng)用:

考古調(diào)查/分析

文化資產(chǎn)分析

工業(yè)材料R&D評定,質(zhì)量控制

高校/研究所材料研究分析

廢料鑒別

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀技術(shù)規(guī)格:

測定原理能量色散型X射線熒光分析法
測定對象固體、粉末、液體、薄膜、土壤滲出水、污水等
測定元素11Na-92U
樣品形狀大小封閉使用時35*35mm(直徑*高度)
開放使用時任意
發(fā)射源X射線
樣品倉環(huán)境大氣(真空可選)
測量范圍 約3mm直徑范圍
射線輸出40kV-1.75mA50W
檢測器電子冷卻式SDD
數(shù)據(jù)處理數(shù)字處理方式DSP(Digital Signal Processor)
軟件自動定性分析、檢測線法定量分析、FP法定量分析(可選)
使用條件溫度:5~27°C
濕度:20~75%
電源:AC 100, 5AAC 220, 3A
設(shè)置:D型接地線
其他附屬噴墨式彩色打印機(jī),鼠標(biāo)等。
尺寸規(guī)格測量頭:133*170*273mm,3.9kg
XG部:320*340*80mm,9.2kg
控制器部:265*340*120mm,9kg
真空泵:190*177*132mm,3kg

 

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